Amerika Birleşik Devletleri Savunma Bakanlığı tarafından geliştirilen bir askeri standart olan, “MIL-STD-883 Yöntem 1007 Kabul edilen yaşam testi” standardında, mikroelektronik cihazlar için temsili bir arıza oranını belirlemek veya belirtilen koşullara tabi cihazların kalitesini veya güvenilirliğini ortaya koymak amacı ile uygulanan bir test yöntemi açıklanmaktadır. Test koşulları, gerçek sistem uygulamalarını ve ortamlarını olabildiğince yakından simüle etmek için sıcaklık döngüsü, açma-kapama elektriksel stres ve titreşimin bir kombinasyonunu içerir. Bunun amacı, gerçek sistem uygulamalarını ve ortamlarını mümkün olduğunca yakından simüle etmektir.
Bu testlerde kullanılan test aparatı için, “MIL-STD-883 Yöntem 1005 Kararlı durum ömrü testi” standardına gönderme yapılmıştır. Ancak sıcaklık odaları MIL-STD-781 standardında belirtilen test profilini takip edebilecek kapasitede olmalı ve titreşim gerekliliklerini karşılamak için uygun ekipman sağlanmalıdır.
Bu test, sıcaklığın tekrarlanması, periyodik titreşimin uygulanması ve belirtilen koşullar altında gerekli olduğu yerde ve şekilde açma-kapama döngülerinde elektriksel gerilimlerin uygulanması istisnaları dışında bu standardın yöntem 1005 standardında yer alan tüm gerekliliklere uygun olarak gerçekleştirilmektedir. Sıcaklık aralığının seçiminde, teste tabi tutulan cihazlar ile ilişkili sıcaklık artışı dikkate alınır.
Yöntem 1007 Kabul edilen yaşam testinin, tam donanımlı, kabul edilmiş bir yaşam testi laboratuvarında yapılması gerekir. Yaşam laboratuvarlarının gerekli sıcaklıkları karşılayabilecek ve tutabilecek sıcaklık odaları ile donatılmıştır. Bu laboratuvarlar ayrıca bu yöntemin titreşim gereksinimlerini karşılayabilecek ekipmanlara sahiptir. Güç kaynakları ve akım ayar dirençleri, test boyunca belirtilen minimum çalışma koşullarını korumak zorundadır. Güç kaynakları, kaynak voltajlarındaki, ortam sıcaklıklarındaki ve benzer değişiklikleri kaldırabilecek kapasitede olmalıdır. Bazen test koşulları, önemli miktarda güç kaybıyla sonuçlanabilir. Bu durumda test aparatı, her cihaz için yaklaşık ortalama güç dağılımını sağlayacak şekilde düzenlenir.
Kabul edilen ömür testinin genel prosedürü, diğer MIL-STD-883 güvenilirlik testlerine benzer. Mikroelektronik cihazlar, belirtilen test sıcaklığında, belirtilen süre boyunca, belirtilen test koşuluna tabi tutulur. Belirlenen orta ve bitiş noktalarında gerekli ölçümler yapılır.
Kuruluşumuz, bilim ve teknoloji alanında dünyada yaşanan gelişmeleri yakından takip eden ve sürekli kendini geliştiren güçlü bir çalışan kadrosuna sahiptir. İşletmelere verilen çeşitli endüstriyel testler kapsamında, “MIL-STD-883 Yöntem 1007 Kabul edilen yaşam testi” standardına uygun test hizmetleri de bulunmaktadır.
